Corso di
MISURE ELETTRICHE 1

Scheda

Codice8037502
Denominazione ingleseELECTRICAL MEASUREMENTS 1
LinguaItaliano
CFU6
SSDING-INF/07

Docente

Prof. Giuseppe Fazio

Programma

Richiami di teoria degli errori.

Cenni su analisi del segnale.

Generalità sul significato delle trasformate.

DFT, FFT, STFT.

Risoluzione in frequenza.

Finestrazione (Hanning, flat top, etc.).

Risposta impulsiva e funzione di trasferimento.

Rumore pseudo random.

Medie, auto e cross correlazione, coerenza, etc.

Conversione A/D.

Teorema del campionamento, correlazione tra errore ammesso e frequenza massima.

Sovracampionamento, noise shaping.

Sistemi di acquisizione, schema a blocchi.

Convertitori sigma-delta.

Bit significativi.

Problemi di interconnessione.

Richiami sulle linee di trasmissione.

Ground loop.

Sorgenti di disturbo, tipi di accoppiamento (tratto di circuito comune, differenza di potenziale tra le terre, accoppiamento dovuto a mutue induttanze, accoppiamento dovuto a capacità parassite, accoppiamento elettromagnetico), tensione di rumore di modo normale e di modo comune.

Standard 4 – 20 mA.

Stadi di ingresso.

Amplificatore per strumentazione.

Amplificatore ad isolamento.

Strumentazione.

Voltmetri: a valor medio, di picco, picco picco, RMS, etc.

Oscilloscopi. One shot: caratteristiche schemi a blocchi. Per segnali ripetitivi, campionamento coerente, porta di campionamento, caratteristiche schemi a blocchi.

Probe di tensione. Terminati (50 ohm). Attenuati. Non attenuati. Attivi. Differenziali.

Network analyzer: caratteristiche, principi di funzionamento, schemi a blocchi.

Analizzatori di spettro: caratteristiche principi di funzionamento schemi a blocchi carta di accordo analizzatori a conversioni multiple cenni sui filtri YIG.

Analizzatore di stati: caratteristiche principi di funzionamento schemi a blocchi.

Tester per circuiti integrati e per schede, cenni.

Lezioni 2024-25

Il corso si tiene nel secondo semestre.
L'orario sarà disponibile prima dell'inizio delle lezioni.

Note

Link pagina web del corso

Statistiche

Questa sezione riassume le statistiche relative alle votazioni di profitto ottenute dagli studenti dall'anno accademico 2010-11 ad oggi. I dati sono aggiornati frequentemente, ma non in tempo reale. Essi si riferiscono comunque soltanto agli esami sostenuti da studenti iscritti al Corso di Laurea o Laurea Magistrale in Ingegneria Elettronica.
Nel calcolo sono inclusi gli esami dello stesso corso con diverso codice.
Il 30 e lode è considerato come 31 nel calcolo della media e dello scarto quadratico medio.
StatisticaValore
Numero esami256
Voto minimo18
Voto massimo30 e lode
Media dei voti22,96
Scarto dei voti3,19
Media votazioni per anno accademico
Anno accademicoEsamiMedia
2023-241622,37
2022-231920,47
2021-222723,40
2020-213223,28
2019-202223,77
2018-191721,82
2017-182623,50
2016-172422,41
2015-162223,09
2014-151724,58
2013-142023,25
2012-131323,23
2011-12118,00